何为投射电容触控技术

    投射电容的触控技术主要有两种：一种是自电容型(self capacitance，也称absolute capacitance)，另一种为互电容型(mutual capacitance，也称transcapacitance)。自电容型是指触控物与电极间产生电容耦合，并量测电极的电容变化确定触碰发生；互电容型则是当触碰发生，会在邻近2层电极间产生电容耦合现象。

    根据这两种原理，可以设计不同的投射电容式架构，不同架构能做到的多点触控功能也就不同。多点触控其实可细分为两种：一种是手势辨识追踪与互动(Gesture interaction)，也就是仅侦测、分辨多点触控行為，如缩放、拖拉、旋转…等，实现方式为轴交错式(Axis intersect)技术；另一种则是找出多点触控个别位置，此功能需要复杂触点可定位式(All point addressable；APA)技术才能达成。

投射电容实际应用

轴交错式

    轴交错式(又称Profile-based)技术，是在导电层上进行菱形状感测单元规划，每个轴向需要1层导电层。以2轴型式为例，触控侦测时，感测控制器会分别扫描水平/垂直轴，产生电容耦合的水平/垂直感测点会出现上升波峰(peak)，而这2轴交会处即正确触控点。由于每次量测为利用单导电层与触碰物电容耦合现象，因此属自电容型技术。

    轴交错式电容式触控技术，其实正是笔记型电脑触控板(touch pad)的实现技术，技术相当成熟，但触控板与触控屏幕最大差异在于，前者是不透明、后者是透明的。因为不透明，所以触控板可在感测区使用金属或碳原子式电极。投射电容式触控屏幕则是透明的，因此需用透明ITO做为导电电极，而且此层ITO不像电阻式或表面电容式是均匀导电层，而需要做样式化设计。 

笔记本触控板

    单点触控应用上，轴交错式能得到确切触控位置，因此不像表面电容式需经校准修正。透过一些演算法，轴交错式也能做到多点触控手势辨识功能，但若要定位多点触控正确位置会有困难。以2轴的扫描来说，2个触控点分别会在X轴与Y轴各产生2个波峰，交会起来就产生4个触点，其中2个点是假性触控点(Ghost point)，这将造成系统无法进行正确判读。 

    不过，仍有方法能解决多点定位问题。在2轴式触控屏幕中，可以利用2根手指触控时间差分辨前/后触点，或以触点的不同移动方向辨别。此外，也可增加轴向提高可辨识触点位置、数目，每增加1轴向可多辨识1点(如3轴可辨识2点、4轴为3点)；不过，每增加1个轴向，就要多1层导电层，这会增加设计的触控面板厚度、重量与成本，这都不是可携式产品乐见的结果。